diff --git a/tem/protokoll/protokoll.tex b/tem/protokoll/protokoll.tex index 6755990..05fd4fa 100644 --- a/tem/protokoll/protokoll.tex +++ b/tem/protokoll/protokoll.tex @@ -25,7 +25,7 @@ Die Transmissionselektronenmikroskopie, kurz TEM, stellt in vielen Bereichen der Ingenieurswissenschaften sowie der Medizin ein wichtiges Verfahren zur Untersuchung von anorganischen wie organischen Materialien auf deren atomare Struktur oder zur hohen Auflösung diverser Materialien dar. Man nutzt hierzu Elektronen, da deren geringe Wellenlänge eine -deutlich genauere Auflösung ermöglicht (vgl.~\ref{eq:auflösung}) als beispielsweise +deutlich genauere Auflösung ermöglicht (vgl.~\eqref{eq:auflösung}) als beispielsweise Röntgenstrahlung und diese einfacher zu handhaben sind als Gammastrahlung im gleichen Wellenlängenbereich. @@ -210,7 +210,7 @@ Metallschicht bedampft.\\ von kristallinen Stoffen wichtig ist. Die Intensität des gebeugten sowie des Nullstrahls hängt von der Orientierung des Kristallgitters zur Richtung des einfallenden Strahls ab. Wenn die belichtete Folie leicht gewölbt ist, ändert sich die Orientierung des Gitters kontinuierlich. -Dabei kann es vorkommen, dass ein Ort in der Wölbung die Bragg-Bedingung (vgl.~\ref{eq:bragg}) +Dabei kann es vorkommen, dass ein Ort in der Wölbung die Bragg-Bedingung (vgl.~\eqref{eq:bragg}) erfüllt, wodurch diese Stelle in der Hellfeldabbildung (Dunkelfeldabbildung) dunkler (heller) erscheint, da mehr Elektronen gebeugt werden. Man spricht in diesem Fall von Biegekonturen, da diese Effekte von der Biegung, also Wölbung der Folie herrühren. @@ -564,7 +564,7 @@ Messwerten. a_{HRTEM} = \SI[parse-numbers=false]{0.413\pm 0.009\,(sys)\pm 0.008\,(stat)}{\nano\meter} \end{equation} -Der wert in~\eqref{eq:ahrtem} stimmt innerhalb der Abweichungsgrenzen +Der wert in~\eqeqref{eq:ahrtem} stimmt innerhalb der Abweichungsgrenzen mit der Literatur \"uberein, wobei er leicht oberhalb desselben liegt. \subsection{Elektronenbeugungsbild einer Goldinsel}